PICTOS的特點
*從5微米到3500微米顆粒的粒度和粒形同時分析
*適合同現(xiàn)有的取樣系統(tǒng)結合，如代表性取樣系統(tǒng)TWISTER， 單探針式取樣系統(tǒng)或者是混樣器。
*有效的分散取代了原來需要通過軟件來修正圖形邊界的問題，測試結果更。
*得到高速顆粒流的準靜態(tài)圖像
*清晰的圖像邊界，顆粒的大小和清晰度同顆粒在測試區(qū)域的位置無關(無景深)
*以黑色輪廓清楚地顯示顆粒的邊界，實現(xiàn)對全透明顆粒的檢測
*短時間內得到顆粒的清晰圖像，測試結果的統(tǒng)計性好
*用戶自定義數(shù)據(jù)分級功能滿足用戶對數(shù)據(jù)細分高達30000級，對分布曲線上的任何一個分級點無限制。
預定義的分級數(shù)據(jù)已儲存于軟件中，包括HELOS系列數(shù)據(jù)等級、篩分分級點等等
*的計算模式可供選擇
測試完畢后可以重新選擇模式進行計算和數(shù)據(jù)處理：
粒度分析：等效投影圓面積徑，F(xiàn)eret徑等等
粒形分析：球形度、長細比和不規(guī)則度
纖維分析：纖維長度、纖維粒徑、彎曲系數(shù)和復雜結構的分析
顆粒圖形庫：根據(jù)篩選條件顯示并打印出用戶挑選出的特定顆粒，追溯顆粒原始運動情況，如篩選球形顆粒所占的比例等
用戶自定義分析：提供基于滿足用戶所定義和要求的粒度粒形分析。
*PICTOS符合21 CFR Rule 11的電子文檔和電子簽名的安全性要求。
