干法激光粒度儀采用的成型技術(shù)，使儀器結(jié)構(gòu)緊湊合理，結(jié)構(gòu)美觀，使用維修方便；采用微納抗干擾技術(shù)，使儀器的電氣穩(wěn)定性更好，故障率更低。那么，為什么在使用過(guò)程中數(shù)據(jù)會(huì)漂移呢？

　　干法激光粒度儀鏡頭和測(cè)試窗玻璃污染：光學(xué)儀器的鏡頭污染是常見(jiàn)的故障。作為粉末測(cè)試設(shè)備，激光粒度分析儀經(jīng)常面對(duì)多塵的環(huán)境，而測(cè)試窗透鏡是直接接觸粉末樣品的光學(xué)設(shè)備。在使用環(huán)境中，諸如聚焦透鏡或準(zhǔn)直透鏡之類的光學(xué)透鏡被浮塵或模具污染所污染，這將在純測(cè)量光束中產(chǎn)生雜散光。這些雜散光將混入樣品的散射光中，從而干擾測(cè)試。測(cè)量窗玻璃上的污染物將直接產(chǎn)生強(qiáng)散射光。因此，光學(xué)鏡片的污染是造成激光粒度分析儀測(cè)試結(jié)果漂移的主要原因。主要解決方案是將儀器保持在干燥，無(wú)塵的工作環(huán)境中。請(qǐng)按照操作步驟經(jīng)常清潔鏡片，以確保光學(xué)鏡片的清潔度。
 

　　激光光路偏離：激光是生熱設(shè)備。在工作周期中，它們將反復(fù)加熱-冷卻-加熱。任何物體都會(huì)隨著熱量而膨脹和收縮，其幾何尺寸也會(huì)隨溫度而變化，光路裝配精度非常高。隨著儀器使用壽命的延長(zhǎng)，光路幾乎不可避免地會(huì)偏移。光路的偏離將導(dǎo)致測(cè)量光束的光能的衰減和檢測(cè)器布置角度的漂移，這將導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)的漂移。解決此問(wèn)題的方法主要取決于儀器，以使光路偏離儀器設(shè)計(jì)的可能性降低，并且定期校準(zhǔn)光路也非常重要。

　　采樣系統(tǒng)的周期和色散效率波動(dòng)導(dǎo)致干法激光粒度儀的數(shù)據(jù)漂移相對(duì)隱蔽，因此很容易被忽略。樣品循環(huán)系統(tǒng)中使用的介質(zhì)的特性，介質(zhì)的流量，超聲分散設(shè)備的運(yùn)行條件以及泵的速度會(huì)顯著影響測(cè)試數(shù)據(jù)并需要仔細(xì)注意。

　　光電探測(cè)器及其放大器電路參數(shù)漂移：這種問(wèn)題應(yīng)屬于儀器制造的質(zhì)量水平。一般來(lái)說(shuō)，任何電子電路和光電探測(cè)器都存在工作條件漂移的問(wèn)題。區(qū)別僅在于漂移量。儀器的用戶通常無(wú)法解決此類問(wèn)題，儀器需要校準(zhǔn)儀器的電路工作條件系數(shù)。一些儀器可以校準(zhǔn)其自身電路的漂移。

　　測(cè)量參數(shù)和測(cè)量條件的變化：分析模型，樣品測(cè)量參數(shù)和測(cè)試環(huán)境（例如濕度，測(cè)試介質(zhì)溫度等）可能會(huì)影響測(cè)試數(shù)據(jù)。我們必須首先確保正確選擇測(cè)試分析模型和樣品測(cè)量參數(shù)（尤其是樣品折射率）。根據(jù)不同樣品和儀器的工作環(huán)境，測(cè)試環(huán)境的影響差異很大。